Microstriscia Introduzione • Struttura della microstriscia • Equazioni di analisi • Dispersione • Modi di ordine superiore • Equazioni di sintesi • Perdite • Introduzione •Linee a microstriscia (90% dei circuiti planari) •Circuiti ibridi (MIC) •Circuiti monolitici (MMIC) Circuito ibrido (DRO) 2020. 0 um Circuito monolitico (amplificatore a due stadi) 1143.0 um Linea a microstriscia Modo quasi TEM Questa approssimazione è valida finché la lunghezza d'onda del campo guidato è maggiore dello spessore del dielettrico e della larghezza della striscia. In particolare, con permittività relative (r) comprese tra 2 e 13, con spessori del dielettrico (h) tipicamente compresi tra 0.1 e 1 mm e larghezze della striscia (w) comprese tra 0.1 e 5 mm questo limite varia tra qualche GHz e 20-30 GHz. Substrati Allumina 99.5 % 2-8 104.tan (10 GHz) 1-2 Allumina 96 % 20 6 9 0.28 Allumina 85 % 50 15 8 0.20 Zaffiro 1 1 9.4 0.4 Vetro 1 20 5 0.01 Poliolefina 1 1 2.3 0.001 Duroid (Roger) 1 5 - 60 2 -10 0.0026 Quarzo 1 1 3.8 0.01 Berillio 2 - 50 1 6.6 2.5 GaAs (alta-res) 1 6 13 0.3 Silicio(alta-res) 1 10 -100 12 0.9 Aria (secca) - 0 1 0.00024 materiale finitura sup. (m) tan = ’’/ ’ r cond. termica (W/cm2/°C) 10 0.37 Striscia superiore •Conduttori •Materiali resistivi (nichel cromo, tantalio) •Materiali dielettrici (biossido di silicio, ossido di alluminio) Conduttori materiale conducibilità [S/m] profondità di penetrazione ad 1 GHz coeff. di espansione termica [m] [K-1] Oro 4.10.107 1.7 15.10 -6 Argento 6.17.107 1.4 21.10 -6 Rame 5.8.107 1.5 18.10 -6 Cromo 0.1.107 2.7 8.5.10 -6 Platino 0.95.107 2.5 9.10 -6 I materiali conduttori vengono depositati sul substrato dielettrico fino a raggiungere spessori pari a circa 4 volte la profondità di penetrazione alla più bassa frequenza di lavoro Equazioni di analisi ' ' C C L' C ' L'0 C ' 0' c C '0 C0 Z0 ε eff eff c L' C' C' C '0 L'0 C '0 C ' C '0 w w 0 2 0 eff 1 c C '0 C ' eff r eff (r +1)/2 Z0 1 c C '0 eff Trasformazione conforme Z0 1 0 w eff c h eff 0 h w eff eff 120 h w eff eff Formule di Hammerstad w eff Per W/h < 1 2h 8h w eq ln 0.25 w eq h 1/ 2 2 w eq r 1 r 1 12h eff 1 0.041 1 2 2 w eq h Per W/h > 1 w eq w eq w eff h 1.393 0.667 ln 1.444 h h r 1 r 1 12h eff 1 2 2 w eq 1/ 2 Larghezza equivalente Per W/h > 1/(2) t 2h w eq w 1 ln t Per W/h < 1/(2) t 4w w eq w 1 ln t Impedenza caratteristica (t=0) 300 r Z0 [ 250 1 200 2 150 3 4 6 100 10 16 50 0 0.1 1 w/h 10 Dispersione Getsinger eff f r r eff 0 f 1 G fd 2 Z0 fd 2h 0 f G = 0.6 + 0.009 Z0 Mehran e Kompa w w eff 0 w eff f w f 1 fg fg c 2w r f w Andamento Z0 – freq. 120 100 80 r = 10.1 60 40 20 0 0 2 4 6 8 10 12 Frequenza (GHz) 14 16 18 Costante di fase Modo dominante r c0 propagazione nel dielettrico modi di ordine superiore modo quasi-TEM propagazione in aria /c0 f Modi di ordine superiore y y weff weff x a) fc TE 10 x b) c / eff 2w eff fc TE 20 c / eff w eff Equazioni di sintesi Per W/h < 2 w 1 4 exp( A ) exp( A ) h 2 1 Z0 r 1 0.11 0.23 A 2 r 1 120 r 1 r w r 1 0.61 2 ln( B 1) 0.39 B 1 ln( 2B 1) h r r Per W/h > 2 B 120 2 2Z 0 r Perdite nei conduttori Per W/h < 1 Per W/h > 1 2 w eq 32 h Rs dB / m c 1.38 A 2 h Z0 w eq 32 h c 6.110 5 A R s Z 0 eff h w eq 0.667 h w eq w eq h 1 . 444 h dB / m Perdite nei dielettrici 120 eff 1 d 4.43 d dB / m eff r 1 Perdite nel dielettrico 10 0 Si 10 -1 GaAs c (dB/cm) 10 -2 Allumina Quarzo 10 10 -3 Z0 = 50 -4 0 4 8 12 16 Frequenza (GHz) 20 24 Massima potenza trasportabile Sebbene le microstrisce siano principalmente applicate in sistemi di bassa potenza, esse sono in grado di trasportare potenze medie fino ad alcuni kiloWatt. Il limite superiore alla potenza media è fissato essenzialmente dalla conducibilità termica del substrato che determina quanto rapidamente può essere rimosso il calore generato. La potenza di picco trasportabile è invece limitata dalla rigidità dielettrica il cui valore è di circa 3.106 V/m per l'aria mentre cresce nei dielettrici (allumina: 4.108 V/m).