Trasporto Carica ( conduzione elettrica) Massa (diffusione) Energia ( conduzione termica) Sistema fuori equilibrio Rilassamento { Interbanda ( 10-3- 10-9 s) Intrabanda (10-13 s) Hp: popolazioni bande costanti ( n e p non ricombinano): elettroni e lacune gas non interagenti per quanto concerne il trasporto Dispositivi a semiconduttore 1 Modello per la conduzione elettrica Forza accelerante + meccanismo di damping F collisione v(k)=ħ-1dE/dk k Dispositivi a semiconduttore 2 Modello di Drude V t Calcolare <v> e <x> Dispositivi a semiconduttore 3 Modello di Drude V t t i T 1 N R i 1 N N Dispositivi a semiconduttore Hp: 1) non dipende da v 2) me non dipende da v 3) E non troppo intenso 4) E non varia rapidamente nel tempo 5) E non varia rapidamente nello spazio 4 Modello di Drude V <v> t P(t)= probabilità che nel tempo t non sia avvenuta una collisione Rdt= probabilità che nel dt avvenga una collisione P(t)(1-Rdt)=probabilità che nel tempo t+dt non sia avvenuta una collisione P(t dt ) P(t )1 Rdt Dispositivi a semiconduttore 5 P(t dt ) P(t )1 Rdt P(t dt ) P(t ) RP (t )dt P(t dt ) P (t ) dP(t ) RP (t ) dt dt P(t ) exp Rt Dispositivi a semiconduttore 6 P(t)(1-Rdt)=probabilità che la collisione sia avvenuta nell’intervallo (t,t+dt) 1 t t P(t ) Rdt t exp( Rt ) Rdt R 0 0 v v (t ) P (t ) Rdt 0 qE qE * t exp( Rt ) Rdt * t me me 0 Dispositivi a semiconduttore 7 s s (t ) P(t ) Rdt 0 qE 2 qE 2 * t exp( Rt ) Rdt t * 2me 2me 0 qE 2 2 v * 2me Fra due collisioni tutto va come se la particella si muovesse a velocità costante <v> Dispositivi a semiconduttore 8 =costante indipendente da E Fe E=104V/cm dK eE dt 1 2 eE segue t 1012 s t a 3kB T segue 2 v v 10 5 m /s m Libero cammino medio v 10 5 1013 m 108 m No trasporto balistico Dispositivi a semiconduttore 9 Modello di Drude Hp: All’equilibrio <v>=0 Collisioni istantanee e casuali dv * v m me eE dt * e e CS : v * E e E me Mobilità Dispositivi a semiconduttore 10 J e ne v nee E e E Per gli elettroni ne 2 e * me Jh pe vh peh E h E In totale: Per le lacune JTOT Je Jh ( e h )E Le correnti di drift di elettroni e lacune si sommano Dispositivi a semiconduttore 11 CON CAMPO E SENZA CAMPO E Dispositivi a semiconduttore 12 Limiti validità del modello di Drude: non dipende dall’energia • Il modello vale solo per campi piccoli: ruolo della reale dispersione bande Dispositivi a semiconduttore 13 Dispositivi a semiconduttore 14 e h Dispositivi a semiconduttore 15 A T fissata la mobilità decresce al crescere della concentrazione di impurezze 1016 1017 1018 Dispositivi a semiconduttore 16 Dispositivi a semiconduttore 17 Si- electron mobility 1) 2) 3) 4) Dip. da Nd Nd<1012/cm3 Nd<4 1013/cm3 Nd≈1016/cm3, Na1015/cm3 Nd≈1017/cm3, Na1015/cm3 Indip. da Nd In un metallo e 103 cm2/Vs Dispositivi a semiconduttore 18 Si: electron mobility Dispositivi a semiconduttore 19 Si: hole mobility 1) Na ≈ 1012/cm3 2) Na ≈ 1014/cm3 3) Na ≈ 1016/cm3 Nd≈ 1015/cm3 4) Na ≈ 1017/cm3 Nd≈ 1015/cm3 Dispositivi a semiconduttore 20 Si: Hole mobility Per ridurre scattering da impurezze: modulationdoping in SL Dispositivi a semiconduttore 21 Le impurezze sono confinate in una regione spaziale separata da quella dove vanno a finire i portatori liberi Dispositivi a semiconduttore 22 2D hole mobility 2D electron mobility Dispositivi a semiconduttore 23 Dispositivi a semiconduttore 24 Dispositivi a semiconduttore 25 Dispositivi a semiconduttore 26 Si:Drift velocity Dispositivi a semiconduttore 27 GaAs electron drift velocity Dispositivi a semiconduttore 28 Dispositivi a semiconduttore 29 E2>E1 E1 E3>E2 E4>E3 Dispositivi a semiconduttore Transitorio 30 Meccanismi di collisione Interazione con il reticolo- fononi a 1 ET T0 3 0 ( ) 2 T 3 Collisioni con impurezze ionizzate ≈E3/2 aT 2 3 0T 2 AL CRESCERE di T IL PORTATORE SENTE MENO IL CAMPO COULOMBIANO Dispositivi a semiconduttore 31