UNIVERSITÀ DEGLI STUDI DI PARMA FACOLTÀ DI SCIENZE MATEMATICHE, FISICHE, NATURALI CORSO DI LAUREA IN SCIENZA DEI MATERIALI Studio di eterostrutture a dimensionalità ridotta InGaP/GaAs, cresciute mediante epitassia da fase vapore con l’uso di precursori metallo-organici Relatore: Chiar.mo Prof. L. TARRICONE Correlatore: Dott. M. LONGO Candidato MICHELE BEGOTTI I composti III-V sono impiegati in numerosi dispositivi Dispositivi Optoelettronici Dispositivi Microelettronici Modulatori per fibre ottiche Celle Solari Fotorivelatori Epitassia BARRIERA POZZO BARRIERA Direzione di crescita BANDGAP ENGINEERING energia MOVPE (Metal Organic Vapor Phase Epitaxy) TRASPORTO REAGENTI PIROLISI DIFFUSIONE e REAZIONI DRIVING FORCE: = vap- sol>0 INCORPORAZIONE p Ai e i p Ai RT ln p Bj j p Be j ai bj Trasporto reagenti in camera MO C = S H2 F MO FHTot2 Controllo del 2% sui flussi molari S PC PS il sistema MOVPE utilizzato Ambiente controllato Impiega gas con purezza di grado elettronico Opera a basse pressioni Monitoraggio gas pericolosi Camera di reazione Flusso laminare Temperature fino a 8500C Portacampioni rotante Suscettore in grafite Riproducibilità entro 1 ML Precursori del gruppo V alternativi H •Minore tossicità H As, P •Minore temperatura di decomposizione CH3 C CH3 CH3 •Ridotta incorporazione di ossigeno e carbonio TMGa+TBA=GaAs+ C2H2n+2 ORGANIZZAZIONE DEL LAVORO Ottimizzazione GaAs Ottimizzazione InP Ottimizzazione InGaP Realizzazione Pozzi InGaP/GaAs Confronto con il Progetto Ottimizzazione dei binari di base Crescita di In0.484Ga0.516P in accordo reticolare con GaAs Gradiente di concentrazione di In in strato fuori match: 49.6-51.7% Percentuale di In nello strato al match: 48.5%±0.1% Dal modello si calcolano le energie di transizione in funzione della larghezza del pozzo 1850 1825 LH2E2 Energia di transizione (meV) 1800 Il modello è fondato sul formalismo della funzione inviluppo nell’approssimazione di massa efficace 1775 1750 HH2E2 1725 1700 1675 1650 Considera pozzi rettangolari ideali a barriere finite LH1E1 1625 1600 1575 HH1E1 1550 0 2 4 6 8 Larghezza pozzo (nm) 10 12 Struttura a pozzi quantici multipli Nonostante la regolarità dei periodi, questa struttura mostra emissione da PL lontano dai valori previsti dal modello GaAs 1.0 0.8 (8 nm) InGaP (10 nm) PL normalizzata GaAs IGPMQW1 0.6 Emissione prevista dal modello 0.4 0.2 0.0 1.5 1.6 1.7 1.8 1.9 2.0 Energia di transizione (eV) Si attribuisce la presenza del picco “anomalo” al difficile controllo delle interfacce I PROBLEMI ALLE INTERFACCE Miscuglio As/P inversa InGaP GaAs diretta InGaP Effetto memoria In Segregazione In Interdiffusione As Si provano varie sequenze di gas nel processo Grazie allo strato di GaAsP si osservano gli effetti del confinamento Pozzo da 8 nm con Pozzo da 8 nm strato di (senza GaAsP) GaAsP 1,0 "picco anomalo" IGPMQW2 PL norm alizzata 0,8 IGPMQW5 0,6 0,4 0,2 0,0 1,5 1,6 GaAs Morfologia delle interfacce 1,7 1,8 Energia Transizione (eV) Pozzi impilati da 7-5-3 nm con strato di GaAsP 1,9 2,0 Confronto con i risultati del modello teorico 2,0 energia di transizione (eV) Curva teorica 1,9 1,8 1,7 1,6 1,5 Picco anomalo 1,4 0 2 4 6 8 Larghezza pozzo(nm) ACCORDO ENTRO IL 2% 10 12 Conclusioni Risultati ottenuti Studio e messa a punto delle condizioni di crescita per GaAs e InP Crescita InGaP al match su GaAs Progetto strutture a pozzi quantici Realizzazione di pozzi quantici InGaP/GaAs Studi preliminari per ottimizzazione delle interfacce Confronto con i dati attesi dal progetto Lavoro aperto o Miglioramento delle interfacce (stechiometria e morfologia) o Punti quantici indotti da strain (stressori di InP) in strutture a pozzi quantici oStudio di adattamento reticolare per celle solari a multigiunzione InGaAs/InGaP fuori match Ringraziamenti Gruppo Semiconduttori Dipartimento di Fisica Prof. L.Tarricone Dott. M.Longo Dott. R.Magnanini IMEM-CNR Dott. A.Parisini Dott. G.Salviati Sig. S.Vantaggio Dott. C.Bocchi Dott. L.Lazzarini Dott. L.Nasi