1 st workshop on “Photon Detection” Perugia 2007 SiPm: Attività e risultati a Tor Vergata Roberto Messi Studio per applicazioni spaziali e… non • Caratterizzazione in regime stazionario • Caratterizzazione sistema SiPm – BC408: » Test cosmici » Test BTF (lnf) • Sviluppo elettronica: » Amplificatori discreti per test » Alimentazione a singolo chip: MAX1932 » ASIC per TOF • Applicazioni in altri campi: necessario uno studio sulla radiation demage Misure sui Silicon Photomultiplier (SiPM) del MEPHI • Sviluppati dal MEPHI; • Caratterizzazioni e Test INFN Tor Vergata , MEPHI • 1x1 mm2 con circa 1000 pixel • 3x3 mm2 con circa 5600 pixel • 5x5 mm2 con circa 3500 pixel Misure di caratterizzazione in regime stazionario sui 3x3 mm2 • La prima parte si presentano le misure di invecchiamento in funzione della carica integrata (circa 1 C). • La seconda parte si esaminano le curve I-V e quindi le caratteristiche del rumore integrato in funzione della temperatura. Guadagno, curve corrente vs. tensione (I-V) e invecchiamento: Setup Misure in “continua” • Setup sperimentale: il SiPM è polarizzato con un alimentatore programmabile. • Un diodo LED posto di fronte ai tre SiPm in misura viene utilizzato per accelerare il tempo di integrazione: 80mC/20min Scelta di un parametro funzionale per la stima delle variazioni di guadagno in funzione dell’invecchiamento. • Per fotodiodi operanti in avalanche (|V| < |Vbreakdown|) vale la: Gavalanche Iout(light dark) IG 1(light dark) IOUT(ligth-dark) è la differenza tra corrente tra diodo illuminato e al buio alla tensione inversa di lavoro. (IG=1(ligth-dark) ) è la stessa differenza per valori piccoli della tensione (Karar et. al NIM, A428:413 431, 1999). • SiPM: guadagno dell’ordine di 106 e lavorano in geiger mode limitato (|V| > |Vbreakdown|) • È possibile ridefinire un parametro di guadagno con la stessa definizione: Parametro di guadagno Iout(light dark) IG 1(light dark) questo permette, in prima approssimazione di mettere in evidenza variazioni di guadagno. Guadagno, curve corrente vs. tensione (I-V) e invecchiamento - Curve Il MEPHI fornisce il grafico a destra: stabilità del funzione del tempo di funzionamento per 20 elementi: A sinistra: andamenti delle curve caratteristiche par. guad. vs. I (dark) e in basso a sinistra il par. guad. vs. I(light-dark) in funzione della carica integrata. Sotto: relazione tra il parametro di guadagno e carica integrata. Dipendenza dalla temperatura - Setup • Si è usato un piccolo criostato ad azoto liquido, dentro il quale il SiPM è stato fissato sul supporto freddo di rame-oro tramite colla ‘silver paint’ per assicurare un buon contatto termico. • La temperatura è controllata tramite un termometro al platino, e la temperatura assoluta reale del SiPM è stata misurata tramite un termometro al silicio (DT470 della CryPhysics) fissato in prossimità del fotodiodo stesso. Nella foto a destra viene mostrato il dito freddo con sopra incollato il SiPm con a fianco il termometro DT470. Le misure delle caratteristiche I-V in buio (di rumore), sono state effettuate sempre con lo stesso apparato sperimentale illustrato nella sezione delle misure di aging. Dipendenza dalla temperatura - Curve Corrente dark in funzione della tensione di bias Da 118K a 293K Da 118K a 293K • Si osserva che il rumore decade di un fattore 2 ogni 8 K . Parametro di guadagno vs. tensione di bias Da 118K a 293K della Le quattro curve rappresentano le amplificazioni in funzione della temperatura. Set up sperimentale BTF Rivelatore A-PM Rivelatore A-PM e A-SiPM E detector H6780-3 H6780-3 E H6780-3 H6780-3 E-detector 80x80x5 mm3 fore PM with light pad but without light guide and SiPM’s Attenuation - 12 db <Epm> One electron Sigma_Epm 188.1±0.3 7.0±0.2 Pedestal 100.7 <Nphotoel> 156.8 F detector (Tow 5x5-SiPM’s) 5x5 SiPM 3 F 5x5 SiPM 3 “F” - detector 75x75x5 mm3 with tow 5x5 SiPM’s One electron <Fsipm> 123.6 ±0.4 Sigma_Fsipm 8.9 ±0.2 Pedestal 77.5 Sigma_Ped 4. 1 < Nphotoel > 34.3 I-detector (1x1-SiPM) WLS Y11 H and I 1x1 SiPM 3 “H”- detectors 30x30x5 mm3 with 1x1 SiPM’s, WLS technology (Y11) These detectors were produced in the middle of 2004. One electron <Isipm> 95.6 ±0.5 Sigma_Isipm 5.7 ±0.3 Pedestal 78.1 < Nphotoel > 15.7 Carica Rivelata da SiPm 3x3 e 5x5 mm 2 in funzione del numero di elettroni incidenti F(5*5Sipm) 170 160 150 140 130 120 110 100 90 80 <A> <A> ASipm y = 16.036x + 78.066 400 350 300 y = 63.45x + 55.69 250 R = 0.9967 2 200 2 R = 0.9988 150 100 1 2 3 4 5 Number of electrons 1 2 3 4 5 Number of electrons Carica Rivelata in funzione del numero di elettroni incidenti I(1*1Sipm) <A> <A> G(3*3Sipm) 240 220 180 160 200 180 140 160 120 140 y = 28.22x + 81.56 2 120 R = 0.9999 y = 19.26x + 74.87 R2 = 0.9982 100 80 100 1 2 3 4 5 Number of electrons 1 2 3 4 5 Number of electrons Detector response vs beam positions One electron E-detector X y +12 mm 0 mm -12 mm -30 mm 186.8 184.2 - 0 mm 189.3 188.9 +30 mm F-detector X -30 mm 0 mm +30 mm 188.0 +12 mm 119.1 123.6 120.4 185.2 0 mm 120.6 124.6 120.4 186.4 -12 mm y - 118.7 1x1 mm 2 con W.S. e preamp x5 SiPm 5x5 ( da cosmico) Traccia n.1 = apertura del gate dell’ADC Traccia n.2 = somma SiPM1 + SiPM2 Traccia n.3 = SiPM1 (5x5mm) Traccia n.4 = SiPM2 (5x5mm)