Elettronica tracciatore CMS: DSM 0.25mm • La scelta della tecnologia rad-hard • Il contratto quadro CERN-IBM per DSMT 0.25mm • La qualifica dei chip DSMT 0.25mm per il tracciatore • Conclusione GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 1 Elettronica di read-out del tracciatore Tutti i componenti sul rivelatore devono essere rad-hard (10Mrad) GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 2 Contratto quadro CERN-IBM • • • • • Tutti i tentativi di utilizzo di tecnologie commerciali (HARRIS, HONEYWELL ecc.) si sono rivelati estremamente costosi e tecnicamente problematici. I tentativi di sviluppare/qualificare una tecnologia “europea” (DMILL) non hanno avuto successo per difficolta’ tecniche. Dopo alcuni risultati preliminari estremamente promettenti, il CERN firma un contratto-quadro con IBM Italia per definire le condizioni commerciali e tecniche di accesso alla tecnologia 0.25mm di IBM. Ponendosi come interlocutore unico per tutti gli esperimenti di LHC (Atlas,Cms, Alice, Lhcb) le condizioni commerciali sono particolarmente vantaggiose. IBM garantisce la stabilita’ della tecnologia; il CERN si prende la responsabilita’ del disegno ‘custom’ delle celle aanalogiche e della qualifica post-irraggiamento. GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 3 APV25: il chip di front -end 1 dei 128 canali Analogue unity gain inverter SF Low noise charge preamplifier SF 50 ns CRRC shaper programmable gain 192-cell analogue pipeline S/H 128:1 Differential current MUX O/P APSP APV25-S1 (Agosto 2000) Dim. del chip 7.1 x 8.1 mm Finale GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 4 Layout del reticolo e del wafer Diametro wafer 200mm #APV25 ≈ 450 #APVMUX+PLL ≈ 110 Dim. reticolo 18,4 x 14,4mm GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 Stato g 5 DCU Consente il monitoraggio di correnti, temperature e tensioni di lavoro. DCU Requireme nts • Inpu t channels: 7 ( 5 used) ( + Inte rnal Temperat ure Sensing) • Resoluti on: 12 bit s • INL: ±1 LSB • DNL: no mi ssing code s • Conversion t ime: < 1 ms • Operat ing t empe rat ure range: -50 °C • +50 °C • Power Consump t ion: < 50 mW • Supply Vo lt age s: VSS = -1 .25V and VDD = 1 .25V • Clock Frequenc y: 40 MHz ( in phase wit h APV clock ) • Inpu t range: GND ± 1 .0V • Die Size : 2 mm x 2 mm GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 6 APV, MUX, PLL, DCU e Laser driver Sono componenti indispensabili per partire con la produzione perche’ finiscono sull’ibrido di read-out e sull’ibrido ottico GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 7 Test di irraggiamento su chip in .25mm (IC e Padova) Tutti i test effettuati su chip prodotti in tecnologia IBM .25mm hanno dato ottimi risultati per valori di irraggiamento ben superiori a quelli previsti in LHC. CMOS intrinsecamente robusto per il danno di bulk. Chip testati in maniera intensiva per effetti di superficie. (50kV X-ray source dose rate ~ 0.5Mrad/Hour fino a 10, 20, 30 & 50Mrad; dosimetri al Si ~10% precisione; anneal: 1 settimana a 100oC). . 9 8 7 6 pre-rad 10 Mrad 20 Mrad 30 Mrad 50 Mrad anneal 5 4 Id [A] 1/2 Noise [mV/Hz ] 0.01 3 2 0.001 4 10 2 4 6 5 2 4 6 6 10 10 Frequency [Hz] GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 2 4 6 10 -3 10 -4 10 -5 10 -6 10 -7 10 -8 10 -9 10 7 10 Pre-rad 50 Mrad Anneal -10 -0.6 -0.4 -0.2 Vg [V] 0.0 0.2 8 Test di irraggiamento APV25 (IC e Padova) Sorgente di raggi X; irraggiamento con i chip sotto bias ed in condizioni normali di lettura. 500 400 300 200 100 0 Pre-rad 0 50 100 150 200 250 500 APV25-S1 400 300 200 100 0 10 Mrad 0 50 100 150 200 250 Nessun cambiamento del rumore dopo l’irraggiamento Test ripetuti con elettroni da Linac da 10 MeV (80Mrad) e neutroni da reattore (2.1x1014cm-2) GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 9 Test di SEU (Single Event Upset) con ioni pesanti (Legnaro) e con pioni (PSI) Estrapolazione per l’intero sistema: ~120 SEU per ora = 0.15% APV25s Conclusioni: la tecnologia appare estremamente robusta. Ion LET 2 (MeV.cm .mg-1) Si Cl Ti Ni Br 910 1316 2023 2832 39 GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 I 62 10 Conclusioni • Richiesta di partecipazione alle spese per il procurement attraverso il meccanismo del ‘frame contract’ CERN-IBM per l’utilizzo della tecnologia DSM (.25mm). • Fondi (200KEuro CORE) assegnati a Padova. • Primo contratto per un engineering run dei chip di controllo: quota totale 203.800CHF; partecipazione INFN 56.800CHF (cassa 2002) GuidoTonelli/Università di Pisa ed INFN/Gruppo1/Roma 14-05-2002 11