1.4 Analisi quantitativa della tecnica XRF prima parte Schema di riferimento: radiazione di eccitazione monocromatica fascio collimato di raggi X incidente con un angolo 1 rispetto alla superficie del campione direzione di rivelazione collimata verso il rivelatore in modo da formare un angolo 2 rispetto alla superficie del campione campione omogeneo di spessore infinito rispetto allo spessore medio di penetrazione della radiazione incidente assenza di effetti di eccitazione secondaria Università degli Studi di Milano - Istituto di Fisica Generale Applicata 2.4 Autoassorbimento e rapporti di intensità XRF fra un campione composito e un campione puro 3.4 Schema di generazione della radiazione di fluorescenza primaria I raggi X incidenti giungono allo strato elementare dx posto a profondità x. Lo spessore x è espresso come densità superficiale (gr/cm2) 4.4 Configurazioni di sorgenti X 1 2 1 2 5.4 Analisi quantitativa Simbologia I(i) = intensità della radiazione X caratteristica emessa dagli atomi dell’elemento “i” contenuti in un campione puro Ii = intensità della radiazione X caratteristica emessa dagli atomi dell’elemento “i” contenuti in un campione composito I0 = intensità della radiazione incidente Pi = prodotto di fattori atomici i = coefficiente di efficienza del rivelatore all’energia Ei G = coefficiente di efficienza geometrica ci = concentrazione dell’elemento “i” 1 = angolo di incidenza 2 = angolo di emissione i = coefficiente di assorbimento fotoelettrico dell’elemento “i” per la radiazione X di energia E0 E0 = energia di eccitazione monocromatica Ei = energia caratteristica di emissione 6.4 Campione composito di spessore finito xo Dipendenza dell’intensità Ii della radiazione X caratteristica emessa dagli atomi dell’elemento “i” contenuti nel campione e la concentrazione ci dell’elemento stesso “i” Ii I 0 Pi c i i G 1 sin 1 i (E 0 ) n n 1 1 c j j ( E0 ) c j j ( Ei ) sin 1 j 1 sin 2 j 1 n n 1 1 x0 c j j ( E 0 ) c j j (E i ) sin sin j 1 j 1 1 2 1 e 7.4 Campione composito di spessore infinito Dipendenza dell’intensità Ii della radiazione X caratteristica emessa dagli atomi dell’elemento “i” contenuti nel campione e la concentrazione ci dell’elemento stesso “i” Ii I0 Pi ci i G cosec 1 i (E 0 ) n n c j j ( E0 ) cosec 1 c j j ( Ei ) cosec 2 j 1 j 1 Coefficiente di assorbimento totale per la radiazione incidente Coefficiente di assorbimento totale per la radiazione caratteristica emessa dall’elemento “i” 8.4 Confronto fra campione composito e campione puro Eccitazione monocromatica Si considera il valore di intensità da un campione puro dell’ elemento “i” nelle stesse condizioni di misura assunte per il caso di campione composito i (E 0 ) I(i) = I 0 Pi i G cosec 1 i (E 0 ) cosec 1 i (E i ) cosec 2 Si ha pertanto il valore di intensità relativa Ii R i ci I(i) i (E 0 ) cosec 1 i (E i ) cosec 2 n c j 1 n j j (E 0 ) cosec 1 c j j (E i ) cosec 2 j 1 9.4 Fattori atomici caratteristici per il tungsteno 1 Pi k 1 Jk in cui f i Ix k : I x Ie I k f i : I k I k J k : Jk k L L k 1 J k 1 k L L 1 Jk Jk k L k L 10.4 Ridefinizione delle equazioni per il caso monocromatico Si considerano: - per un campione puro i (E 0 ) I(i) = I 0 Pi i G cosec 1 i (E 0 )cosec 1 i (E i ) cosec 2 - per un campione composito i (E 0 ) Ii = I 0 Pi ci i G cosec 1 M (E 0 ) cosec 1 M (E i ) cosec 2 n in cui M(E i ) := c j j (E i ) j1 Si definisce allora n M(E 0 ) := c j j (E 0 ) j1 i (E 0 ) cosec 1 i (E i ) cosec 2 Ii R i := ci I(i) M (E 0 ) cosec 1 M (E i ) cosec 2 11.4 (segue) Si considerano le quantità: i* : i (E 0 ) cosec 1 i (E i ) cosec 2 M* : M (E 0 ) cosec 1 M (E i ) cosec 2 *j j (E 0 ) cosec 1 j (E i ) cosec 2 ij := * i i (E 0 ) cosec 1 i (E i ) cosec 2 ij := ij 1 Tenendo conto del vincolo c i 1 - c j j i i* * M i* n c j j1 * j i* c i i* c j *j j i si ricavano le relazioni: 1 *j ci c j * i j i 1 ci c j ij j i 1 1 c j ij j i 12.4 Sistema finale di equazioni Si ricava quindi i* R i = ci * = ci M i* n c j1 j * j ci ci c j ij j i ci 1 c j ij j i da cui le equazioni omogenee R i - 1 ci R i c j ij 0 j1 Il sistema finale è composto dalle n equazioni non omogenee: ci = R i 1 c j ij j1 13.4 Sistema sperimentale con anodi secondari intercambiabili 14.4 Sistema sperimentale con anodi secondari intercambiabili Esempio di risultati quantitativi Capitolo 2 15.4 Esempi di monetazione greca arcaica VII-VI a.C. 16.4 Influenza delle irregolarità geometriche superficiali 17.4 Esempi di analisi XRF quantitativa di di monete greche arcaiche - VII-VI a.C. R = Reverse (retro) O = Obverse (fronte) SG = specific gravity Capitolo 2 18 Rappresentazione dell’eccitazione secondaria Capitolo 2 19.4 Influenza dell’eccitazione secondaria Volume circolare dell’eccitazione secondaria di i Capitolo 2 semipiano inferiore Spessore dell’eccitazione primaria di J semipiano superiore Schema geometrico 20.4 Calcolo dell’eccitazione secondaria /2 I ' i G 0 0 0 I0 Pi Pj ci c j i sin 1 j(E 0 ) i(E j ) e M ( E0 ) x1 M ( Ei ) x2 M ( E j ) x2 x1 sin 2 cos sin 1 dx1 dx2 d( ) sin 1 cos 4 Si ricorda che dΩ(θ) = 2π sin θ dθ Capitolo 2 21.4 Calcolo dell’eccitazione secondaria (contributi dai due semispazi) I 'i I 0 Pi Pj ci c j i 2 G sin 1 2 0 sin cos M E j M Ei x2 x2 M E0 M Ei x1 e cos sin 2 e sin1 cos dx1 dx2 0 0 e 0 Capitolo 2 M E j M Ei x2 cos sin 2 M E0 M Ei x1 e sin1 cos dx dx d 1 2 x2 22.4 Integrazione della formula per l’eccitazione secondaria Integrando su x1 da x2 a ∞ si ha: e E M E j M 0 x1 sin cos 1 dx1 x2 1 M E0 M E j sin 1 cos e E M E j M 0 x2 sin cos 1 Integrando su x2 da 0 a ∞ si ha: 1 M E0 M E j 0 sin 1 cos e Capitolo 2 x M E j M Ei M E0 M E j sin 2 sin 1 cos cos 1 2 dx2 1 M E0 M E j M Ei M E0 sin 2 sin 1 sin 1 cos 23.4 Integrazione della formula per l’eccitazione secondaria Infine l’integrazione sulla variabile θ fornisce /2 1 M Ei M E0 sin 2 sin 1 0 1 M E0 M E j sin 1 cos sin d cos E d cos 1 1 ln M 0 t M E j M Ei M E0 0 E E E M E0 sin 1 t 0 cos M 0 M E j M i M 0 sin 2 sin 1 sin 1 sin 2 sin 1 sin 1 1 1 t 1 M E0 M E0 M E j 1 1 1 1 sin sin 1 1 ln ln 1 M Ei M E0 M E0 E E E M E j M E j M i M 0 M 0 sin sin 2 sin 1 sin 1 sin 1 sin 1 2 Capitolo 2 24.4 Espressione dell’intensità XRF complessiva n i (E 0 ) Ii = I 0 Pi ci i G 1 1 c j ij M(E 0 ) 1 M(E i ) 2 j1 Dove si è posto n M (E ) : ci i (E ) i 1 M (E 0 ) 1 M (E i ) 2 1 1 A ij (E 0 ) : ln 1 + ln 1 + M (E 0 ) 1 M (E j ) M (E i ) 2 M (E j ) 1 D ij : 0 ij : Dij 2 se E 0 E iabs e E j E iabs altrove Pj i (E j ) j (E 0 ) A ij (E 0 ) i (E 0 ) Φ1 Φ2 ≡ ≡ cosec ψ1 cosec ψ2 25.4 Contributo dell’eccitazione secondaria Tenendo conto della relazione E0 > Ei si ha μ M(E0) << μM(Ei) e pertanto M (E 0 ) 1 M (E i ) 2 1 1 A ij (E 0 ) ln 1 + ln 1 + M (E 0 ) 1 (E ) (E ) (E ) M j M i 2 M j Termine indipendente da Φ1 Termine con una debole dipendenza da Φ2 26.4 Approssimazione per piccoli assorbimenti Si assumono le relazioni (la seconda condizione è in effetti irrealistica poiché Ei< Ej ) M (E j ) M (E 0 ) M (E i ) M (E j ) 2 M(E j ) In tal caso il termine Aij (derivante dalla soluzione dell’integrale triplo) diviene Aij e conseguentemente si ricava: ij Pj i (E j ) j (E 0 ) 1 i (E 0 ) M (E j ) Si noti che il termine μi(E0) a denominatore compare per ottenere la formula con un fattore comune in evidenza per i due contributi primario e secondario. j (E 0 ) Pertanto il fattore caratteristico della eccitazione secondaria è dato da M (E j ) che rappresenta il fattore di intensità per la produzione secondaria degli atomi “i” dalla radiazione di energia Ej ottenuta con radiazione di eccitazione di energia E0 . Si ottiene quindi: i (E j ) I ij I 0 Pi Pjc i c j i G M (E j ) M (E 0 )1 M (E i ) 2 ' μ j (E 0 )1 27.4 Approssimazione per piccoli assorbimenti Con questa approssimazione la produzione secondaria generata attorno a un punto di origine della radiazione dell’elemento “j”, che è emessa isotropicamente, alla distanza R dipende; - dal numero di fotoni per unità di superficie 1 M (E j )R 4R - dal prodotto del numero di atomi per la sezione d’urto Quindi si ottiene semplicemente una integrazione di tipo e 0 M (E j )R A 2 e N Av 4R 2 dR M dR 1 28.4 Espressione dell’intensità XRF complessiva Deduzione quantitativa Si considera i (E 0 ) M ( E 0 ) 1 M ( E i ) 2 I R i : i i (E 0 ) I(i) I 0 Pi i G1 i ( E 0 ) 1 i ( E i ) 2 I 0 Pi ci i G1 1 c jδij j * i (E 0 )1 i (E i ) 2 i ci 1 c j ij ci 1 c j ij * M(E 0 )1 M(E i ) 2 j c j j j j ci 1 c j ij ci c j ij j 1 j i Si ricorda che si sono definiti *j j (E 0 ) 1 j (E i ) 2 ij := * i i (E 0 ) 1 i (E i ) 2 ij := ij 1 29.4 Espressione dell’intensità XRF complessiva Poiché vale la condizione ci 1 c j j i si ha quindi 1 1 R i ci 1 c j ij ci 1 c j ij 1 c j ( ij 1) 1 c j ij j j j i j i In definitiva si ricavano le equazioni ci R i 1 c j ij j i 1 c j ij j i Si osserva infine che ij Dij 2 Pj i (E j ) j (E 0 ) A ij i (E 0 ) dove Aij , che è il risultato dell’integrazione su tre variabili, non contiene i(E0)