Fondazione
Bruno Kessler
Centro materiali e
microsistemi
dott. Massimo Bersani
Micro and Nano Analytical
Laboratory (MiNALab)
Michele Moltrer
Daniela Michelatti
Il Laboratorio MiNaLab si
dedica principalmente
all’analisi delle superfici
organiche ed inorganiche
nell’ambito della
microelettronica e della
nanotecnologia, al fine di dare
supporto sia alle industrie ed
ai laboratori di ricerca di tutto
il mondo, sia alle attività di
ricerca proprie del gruppo.
OBIETTIVI:
•
•
•
Osservare il tipico procedimento di ricerca
scientifica eseguito in un laboratorio;
Capire il percorso di collaborazione lavorativa
nell’ambito della ricerca;
Approfondire le nostre conoscenze in
chimica, fisica e biologia.
SEM
Microscopio Elettronico a
Scansione: Informazioni
morfologiche
Gennaro Salvatore
PROFILOMETRO
Profilometro: grazie ad
una punta che segue il
profilo del campione, si
possono ottenere
informazioni
morfologiche
Barozzi Mario
Spettroscopio
fotoelettronico a
raggi-X: informazioni
chimiche
XPS
Core line: survey
3000
C 1s
Intensity [cps]
2500
2000
O 1s
1500
1000
Zn 2p
O-Auger
O-Auger
N 1s
Ca 2p
500
S
0
1000
800
600
400
S, Si, Zn
200
Si, Zn
0
Binding Energy [eV]
Vanzetti Lia Emanuela
XRD
Diffrattrometro a Raggi X:
sfruttando il fenomeno della
diffrazione, si riescono ad
ottenere informazioni riguardo
al reticolo cristallino del
campione.
Bortolotti Mauro
• L'esame della superficie mediante SEM con un basso ingrandimento
rivela che la matrice sembra sia costituita da 3 fasi principali:
a) La matrice vera e propria, di natura amorfa
b) Fibre flessibili presumibilmente in cellulosa
c) Fibre a maggior rigidità
Lo spettro eseguito mediando su un’area contenente tutte e tre le fasi ha
mostrato la presenza di, principalmente: C, N, O, S, Na, Ca, Cr, Zn, Si, Al e
(in alcuni casi) Fe.
Grazie all’utilizzo del Profilometro infine, abbiamo potuto constatare che il
campione è di uno spessore di circa 373 µm, nonostante i problemi derivati dalla
grande rugosità dello stesso.
• Con l’analisi XRD invece, anche se i dati sperimentali sono abbastanza
problematici, abbiamo attribuito alle fibre di maggior rigidità una composizione
in kevlar, ed alla matrice ed alle fibre più flessibili una natura amorfa di cellulosa.
•
SIMS (Damiano Giubertoni) Spettrometro di massa dinamico:
informazioni di composizioni chimiche di superficie e in profondità (few
nm – 10 μm)
TOF (Salvatore Gennaro) Spettrometro di massa a
tempo di volo: informazioni chimiche di superficie
COMPUTAZIONE (Rossana Dell’Anna): riunire informazioni
ricavate con gli strumenti per ottenere nuove conoscenze sul
materiale analizzato