Autotuning basato su correlazione nei controlli predittivi W. Stefanutti*, E.Tedeschi**, P. Mattavelli**, S. Saggini*** * DIEGM – Università di Udine – Udine - Italy ** DTG – Università di Padova – Vicenza – Italy *** I&PCD – ST Microelectronics – Cornaredo (MI) - Italy Riunione Annuale GE 2006 Ischia, 21-23 giugno 2006 Vantaggi del controllo digitale integrato per convertitori dc-dc ad alta frequenza Immunità alle derive dei componenti Possibilità di implementare schemi di controllo complessi Facilità di integrazione con altri sistemi digitali Scalabilità in presenza di avanzamenti tecnologici Autotuning dei parametri del controllore, calibrazione del sensing e autodiagnostica Riunione Annuale GE 2006 Ischia, 21-23 giugno 2006 Caratteristiche del controllo deadbeat Le tecniche di controllo deadbeat, pur molto attraenti per la loro rapidità di risposta, rivelano un proprio punto debole nella sensibilità alle variazioni parametriche Le tecniche di autotuning suscitano crescente interesse in quanto potenzialmente in grado di superare questo problema Presentazione di una tecnica di autotuning semplice, basata sulla correlazione dell’errore Riunione Annuale GE 2006 Ischia, 21-23 giugno 2006 Obiettivo del presente lavoro Indagine su una tecnica di autotuning per controllori digitali dead-beat, mediante utilizzo dell’auto correlazione dell’errore Caratteristiche: – Basata sull’autocorrelazione dell’errore in presenza di ingresso ad onda quadra – Applicabile in presenza di stimatori del disturbo – Metodo di autotuning rapido – Adatto per diverse topologie di convertitori dc-dc – Tecnica con basso livello di complessità Riunione Annuale GE 2006 Ischia, 21-23 giugno 2006 Implementazione proposta IC digital control Predictive current control Lm=K*L Vin TUNING ALGORITHM VOref+ reg(z) _ VO iLref+ e _ Lm / Tsw + ESL + 1/Vin VO iL driver iL L io ESR C + VO - A/D A/D Estendibile al caso di presenza di stimatore del disturbo Riunione Annuale GE 2006 Ischia, 21-23 giugno 2006 Proprietà dell’errore di corrente Sotto-stima del guadagno d’anello (K = 0.5) [A] 6 [A] iLref 6 2 2 iL sampled 5 5.01 5.02 iL sampled iL 5.03 5.04 0 4.99 3 3 [A2]2 [A2]2 1 1 0 0 -1 5 5.01 5.02 5.03 5 5.01 5.02 -1 e(k)·e(k-1) -2 -3 4.99 iLref 4 4 0 4.99 Sovra-stima del guadagno d’anello (K = 1.5) -3 4.99 5.03 5.04 e(k)·e(k-1) -2 5.04 iL 5 5.01 5.02 5.03 5.04 t [ms] t [ms] Il prodotto e(k)e(k-1) è positivo Il prodotto e(k)e(k-1) è negativo Riunione Annuale GE 2006 Ischia, 21-23 giugno 2006 Risultati sperimentali Test sul controllo di corrente presentato: Risposta ad un gradino di riferimento in presenza di un passo di ritardo nel controllo Prima dell’autotuning, per K=1.3 Dopo l’autotuning Vo = 500 mV/div, iL= 3 A/div, t = 10 ms/div Riunione Annuale GE 2006 Ischia, 21-23 giugno 2006