Progetto e realizzazione di un capacimetro con microcontrollore per fotodiodi SPAD Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Relatore: Prof. Alberto Tosi Correlatore: Ing. Alberto Dalla Mora Sommario 2 La capacità dello SPAD Funzionamento del capacimetro Taratura e misure sperimentali Conclusioni e prospettive Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Il fotorivelatore SPAD Rivelazione del fotone: Confronto APD – SPAD : Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 3 Circuiti di spegnimento passivi 4 Free Running Gated – Mode Errori di rivelazione Alzare Soglia Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri “Capacimetro per diodi polarizzati” I REQUISITI: Range: da 0.1pF a 20pF Risoluzione: 5fF Bassi parassitismi Polarizzazione dello SPAD Tensione linearmente dipendente dal valore della capacità Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 5 “Capacimetro per diodi polarizzati” II Analisi circuitale Guadagno ideale Due zeri nell’origine Ad alte frequenze: Guadagno reale con banda limitata da CAK Caratteristiche: Frequenza di 50kHz Ingresso di ampiezza 0.1V con conseguente uscita da 15mV a 3V Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 6 Presentazione dello SPADCapMeter Svantaggi : • Generatore di funzioni; • Oscilloscopio; • Nessun interfacciamento; • Necessità programma di calcolo. Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 7 SPADCapMeter Front-end 8 Convertitore A/D Analogico Capacimetro Generatore di sinusoide Milano, 22 Luglio 2009 Alimentazione Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Microcontrollore Generazione Sinusoide Microcontrollore 9 Filtro Passa Banda Filtro a reazione multipla Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Front-end analogico 10 5µs Input SOC Comparatore Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Ritardatore Scelta Convertitore A/D Requisiti 0.1V x 5fF = 0.7mV • ∆V = 700fF • fSAMPLE > 50ksps • SOC attivo basso LTC1417A 4.096V = 250μV • ∆V r = 14 2 • fSAMPLE = 400ksps max • Comunicazione SPI Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 11 Microcontrollore – Hardware 12 Gestione SPADCapMeter USB Vantaggi USB: Protocollo largamente diffuso; Plug and Play; Alta velocità di trasferimento; Autoalimentazione. PWM CORE SPI PIC18F4550 Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Firmware 13 Blocchi principali: – Inizializzazione hardware: • SPI • Timer • USB – Gestione USB – Acquisizione ed elaborazione: • Filtro mediano + media Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Alimentazione 14 USB: fornisce 5V @ 500mA MAX; SPADCapMeter: – Assorbe 75mA; – Necessita di ±5V Circuito a pompa di carica: Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Realizzazione pratica 15 Alimentazione Front-end Analogico Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Interfaccia Labview 16 Due tipi di misure: – Misura singola – Misura caratteristica Due pannelli ausiliari – Taratura – Cparassita • Abilitazione correzione • Caricamento file di taratura di default • Impostazioni di esportazione dei files Pannello delle Opzioni Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Misure 17 Obiettivo: Caratterizzazione di uno SPAD in silicio con VB=17V Taratura: Verifica caratteristica Misura Cparassite Caratteristica 2.214pF ± 0.5fF Vp - Cak Ccorrezione data da Cbk serie Cba ~ Cbk Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Conclusioni 18 Sviluppato sistema per misura di capacità rivelatori SPAD; Range di Misura tra 0.1pF – 20pF; Misura automatizzata mediante microcontrollore; Interfaccia USB e gestione via Labview. Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Prospettive 19 Alimentatore ±15V per operazionali scheda capacimetro Generatore tensione di bias per SPAD Aggiunta funzionalità al software Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Progetto e realizzazione di un capacimetro con microcontrollore per fotodiodi SPAD Grazie per l’attenzione Tamborini Davide e Ruggeri Alessandro Relatore: Prof. Alberto Tosi Correlatore: Ing. Alberto Dalla Mora Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Gated – Mode a prelievo differenziale Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 21 Studio Capacimetro Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 22 Filtro Passa Banda Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 23 Front-end analogico II Scelta soglie: 24 Durata impulso monostabile : In corrispondenza del massimo valore dell’ingresso si ha lo Start Of Conversion Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Filtraggio Milano, 22 Luglio 2009 25 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Codice C Milano, 22 Luglio 2009 26 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri Funzionamento interfaccia Blocco fondamentale: getM.vi Esempio di acquisizione: misura caratteristica Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri 27 Misure 28 Caratterizzazione di uno SPAD al silicio con VB=17V 1. Taratura dello strumento con tre condensatori di precisione da 0.7pF, 1.1pF e 4.3pF; 2. Controllo della taratura con un quarto condensatore da 2.2pF tramite misura singola; 3. Rilevazione delle capacità parassite dello SPAD, misurando CAK, CBK e CBA con Vp=0; 4. Caratterizzazione dello SPAD usando una Vp da 0V a 15V con passi di 1V Milano, 22 Luglio 2009 Davide Tamborini e Alessandro Ruggeri