CARATTERIZZAZIONE E MODELLIZZAZIONE ELETTRICA DI CELLE FOTOVOLTAICHE ORGANICHE Laurea Triennale in Ingegneria dell’Informazione – curriculum elettronica MARCO DELISE BOSCOLO Laureando: Relatore: ANTONIO Anno Accademico 2010-2011 IL FOTOVOLTAICO CELLE FOTOVOLTAICHE IN SILICIO: - Grandi efficienze ✓ - Grandi spese produzione => Grande costo sul mercato ✗ => DIFFICOLTA’ A COMPETERE CON CARBONFOSSILI 2 STRADE POSSIBILI: incrementare efficienza => - superficie => - costi nuovi materiali fotogenerativi + economici FOTOVOLTAICO ORGANICO Costi di produzione bassissimi: materiale organico in soluzione liquida => come industria inchiostro Sottili => supporti flessibili => varietà applicazione Bassa efficienza (6-8%) Problemi durabilità ed instabilità a contatto con ossigeno RICERCA PER COMPRENDERE MEGLIO IL FUNZIONAMENTO E MIGLIORARE PRESTAZIONI FUNZIONAMENTO FISICO/CHIMICO GIUNZIONE TRA 2 MATERIALI NELLA CELLA: ACCETTORE DONATORE 1. ASSORBIMENTO FOTONE 2. GENERAZIONE ECCITONE (coppia elettrone-lacuna) 3. DIFFUSIONE ECCITONE E SEPARAZIONE CARICHE ALL’INTERFACCIA 2 MATERIALI 4. RACCOGLIMENTO CARICHE AGLI ELETTRODI CELLE SOLARI AD ETEROGIUNZIONE DISPERSA Per aumentare superficie interfaccia donatore-accettore: MISCELA DI 2 MATERIALI ORGANICI (D-A) => superficie frattale estesa STRUTTURA TIPICA: ANODO(ITO) PEDOT:PS MATERIALE ATTIVO (BLEND POLIMERICA) CATODO (Al) GRANDEZZE CARATTERISTICHE: CURVA I/V - Tensione di circuito aperto Voc - Corrente di cortocircuito Isc - Densità di corrente di cortocircuito Jsc = Isc/A - Fill Factor (Fattore di merito) FF% - Efficienza (PCE) η% CIRCUITO EQUIVALENTE CIRCUITO EQUIVALENTE DIAGRAMMA NYQUIST PROGRAMMA DELLA TESI COSTRUZIONE CELLE ORGANICHE P3HT-PCBM (le più studiate) con DIVERSI SPESSORI 150÷250nm CARATTERIZZAZIONE/MODELLIZZAZIONE: - CURVE I/V - DIAGRAMMI DI NYQUIST => CIRCUITO EQUIVALENTE CONFRONTO VALORI RICERCA RELAZIONI PRESTAZIONI/SPESSORE COSTRUZIONE DELLE CELLE DEPOSITAZIONE BLEND Preparazione supporto vetro-ITO: etching, ritaglio, numerazione e pulitura Preparazione della blend: P3HT:PCBM (1:1) 40mg/ml in ODCB Depositazione blend: SPIN-COATING ( -> retta di taratura per diversi spessori) ELETTRODI E SIGILLATURA Trattamento termico (ANNEALING) Rimozione strisce blend per elettrodi Elettrodi Al: - posizionamento mascherina - EVAPORAZIONE alluminio (PVD) SIGILLATURA CELLE RISULTANTI 37 CELLE CREATE CARATTERIZZAZIONE E MODELLIZZAZIONE PROBLEMA CONTATTI Necessità CONTATTATURA STANDARD: elettrodi di alluminio sottili => rovinabili saldatura contatti (non possibile) ✗ supporto con graffette (non saldo) ✗ prime 22 celle contatti a coccodrillo (rischio Al) ✗ carbontape (troppo resistivo) ✗ pin fissati + vernice conduttiva ✓ CURVE I/V Keithley 2400 Sourcemeter (+ LabView): INTERVALLO: [-1;1] V STEP: 100mV BUIO: scatola oscuratrice LUCE: lampadina 60W, rete, distanza 5±0.5cm USCITA: V ENTRATA: I MEDIA DI 3 MISURE ogni elettrodo FIGURE DI MERITO: Voc FF Isc (=> Jsc) η ANALISI IMPEDENZA Impedance Analyzer 4192A (+ LabView): INTERVALLO: [7-100K]Hz scala logaritmica (5 pti/dec) BUIO: scatola oscuratrice BIAS: 0V LUCE: lampadina 60W, rete, distanza 5±0.5cm MEDIA DI 3 MISURE RILEVATE LUCE MEDIA DI 3 MISURE RILEVATE BUIO .. ogni elettrodo MODELLIZZAZIONE IMPEDANCE ANALYZER: CIRCUITO-SERIE MODELLIZZAZIONE: Rp MODELLIZZAZIONE: Cp ALTRE MISURE Misura Area Attiva : ogni elettrodo Scanner -> conto pixels (“Gimp 2”) (in base a parametro noto) Misura Spessore : ogni cella taglio -> Profilometro Alfa Tencor MEDIA DI3 MISURE RILEVATE VALORE DERIVATO DA Cp: εr VALORE DERIVATO DA Rp: σ CONFRONTO VALORI IPOTESI NECCESSARIE - Misura spessore valida per tutta la cella - Condizioni ambientali/Procedure mantenute costanti => blend uguale per concentrazione, purezza e trattamento ricevuto - Intensità luminosa costante durante misurazioni - Riscaldamento indotto nella cella costante - Contattatura simile POSSO FARE MEDIE: tra i 2 elettrodi (=> valori validi x cella) POSSO FARE CONFRONTO TRA LE CELLE RISPETTO SPESSORE CONFRONTO LUCE/BUIO: DIAGRAMMA DI NYQUIST BLU: buio ROSSO: luce CONFRONTO LUCE/BUIO: Rp e Cp BLU: buio ROSSO: luce Rp ✓ Luce: molta + corrente Cp ✓ Luce: + cariche che si accumulano all’interno CONFRONTO TRA CELLE: necessità di normalizzare Dipendenza Rp e Cp dalla sezione dello strato attivo (variabile da elettrodo ad elettrodo) NORMALIZZAZIONE RISPETTO ALL’AREA PER ATTUARE IL CONFRONTO RISPETTO AL SOLO SPESSORE Rp*A Cp/A CONFRONTO TRA CELLE: diagrammi di Nyquist normalizzati CONFRONTO TRA CELLE: Rp*A CONFRONTO TRA CELLE: Cp/A OSSERVAZIONI Rp*A: PIU’ GRANDI PER SPESSORI GRANDI (in teoria) … NON AVVIENE! Cp/A: => ρ non costante! PIU’ PICCOLA PER SPESSORI GRANDI (in teoria) … NON AVVIENE! => ε non costante! BLEND NON OMOGENEE NELLE CELLE CONFRONTO CELLE: conduttività σ CONFRONTO CELLE: costante dielettrica relativa εr RICERCA DI RELAZIONI TABELLE RIASSUNTIVE: caratt. geometriche e d’impedenza TABELLE RIASSUNTIVE: figure di merito (* Energia luminosa incidente alla cella non misurabile => il valore è rispetto ad una costante => numero interessa solo per il confronto, non in assoluto) FIGURE DI MERITO vs SPESSORE - Voc pressochè indifferente a variazioni di spessore - Jsc cresce in modulo con spessori più grandi, plateau FIGURE DI MERITO vs SPESSORE - FF indifferente a variazioni di spessore - Efficienza disposta in modo abbastanza casuale ALTRE RELAZIONI Voc cresce al crescere di Rp*A Efficienza cresce al crescere di Rp*A OSSERVAZIONI E CONCLUSIONI - Ipotesi forti per effettuare confronto (e => ricerca relazioni) - Pochi dati disponibili (5 celle finali considerate) - Grande dispersione dei valori rilevati => necessità: - standardizzazione procedura di creazione celle - numero elevato di campioni